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标题:
实测IBM T61 显卡740芯片背上电容正常标准电压,阻值实测数据
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作者:
上海佳艺
时间:
2013-4-1 11:55:29
标题:
实测IBM T61 显卡740芯片背上电容正常标准电压,阻值实测数据
实测IBM T61 独立显卡g86-740-a2芯片背上电容正常标准电压,阻值实测数据:(实物标注测量图示)
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通过标准数据可以在线判别显卡芯片的好坏。避免误判带来不必要的麻烦。
作者:
默默修板人
时间:
2013-4-1 13:44:00
实测数据太重要了,对维修很有作用。
作者:
jlkcs
时间:
2013-4-1 13:51:12
这个显卡实测数据很好,免得反复做显卡,显存,无法判别好坏,支持。
作者:
yxdn
时间:
2013-4-1 13:55:58
收录,正做显卡,不开机了,对应数据测量,完了,显卡软故障。和标准不一样。再修。
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